成飞申报项目获日内瓦国际发明展金奖
日期:2021-03-30 | 分享: 0

  3月22日,航空工业成飞申报的“手持式表面缺陷检测系统”在第48届日内瓦国际发明展上获得赛会金奖。

  为确保飞机表面质量,对飞机表面划痕等表面缺陷进行快速检测与定位,是飞机生产制造及使用维护过程中必不可少的环节。当前在航空制造领域,主要通过人工目视或借助其他交互式设备进行检测,存在着劳动复杂度大、检查周期长、漏检率高、缺陷类型需要经验判断等问题,成为制约航空产品质量提升的一大技术障碍。此次开发的“手持式表面缺陷检测系统”对5种类型的表面缺陷进行了分类并建立相应的判定模型,通过剪裁、对比度变化、旋转平移等图像变化方法对样本学习、样本数量进行扩充,在一定程度上提升了小样本深度学习的可靠性。在此基础上,利用基于多尺度信息融合、GPU和CPU并行计算等方法,搭建了“手持式表面缺陷检测系统”软硬件系统,提升了飞机表面检测的效率和可靠性。通过光路优化、全局定位模块组合,可应用于零部件生产、装配、表面处理等生产环节的表面质量检测,具有重大的实际价值。

  日内瓦国际发明展是世界三大发明展之一,创办于1973年,是全球历史最长、规模最大的发明展之一。成飞参展团队与组委会进行了两场线上质询,最终从众多参展项目中脱颖而出,申报项目获得金奖,也表明了航空工业在智能制造领域的科技创新成果获得国际同行的认可。(朱绪胜 邓建邦)